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X- 射線熒光光譜儀
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ThermoFisher         
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PSE02198  X- 射線熒光能譜儀 美國賽默飛世爾 ARL QUANTX EDXRF PSE02198 面議


Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度,打破了1納米的檢測限瓶頸。專為滿足實驗室和制造環境中極具挑戰性的分析需求而設計,ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可最大程度提高各種元素分析應用的分析量。能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術可通過簡易的樣品制備,實現主量、次量和痕量元素分析,所分析樣品范圍廣泛,可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。


ARL QUANT′ X熒光光譜儀是一個完整的配置包,配置頂級的硬件,先進的分析軟件,基于數百個XRF成功應用分析案例和幾十年的實踐經驗,為現場應用方法開發和技術支持提供了強大的支撐。







分析優勢:
? 快速分析 F到U之間的元素
? 靈敏度從 <1 ppm -100%
? 多元素的測量時間10-60秒
? 多達8種的設置條件同時選擇,應用于各種樣品的多元素分析
? 通過 CCD 照相機顯示樣品影像
? 可調的X射線光斑直徑1- 15 mm,以便適應不同樣品大小
? 獨有的電制冷Si(Li)檢測器技術和數字脈沖處理器技術
? Wintrace 多元化的 XRF 應用軟件,多個報告輸出選項
? 高級無標樣 厚度和涂層分析
? 專利的UniQuant 無標樣分析技術
? 機械持久性,可保證長期的無故障使用,占地面積小,機動性好
? 可以為客戶定制應用并在線升級, 易于安裝維護


探測器內部的卓越-獨特技術
作為一個有著超過40年經驗的X射線探測器制造商,本公司深入了解并定義了探測器性能的關鍵參數。經歷了4代探測器的技術創新,硅鋰Si(Li)探測器成為ARL QUANT′ X 的心臟 ,提供了高靈敏度,速度和可靠性。
? 更低的晶體溫度提供了更佳的分辨率
? 更厚的晶體可獲得更佳的探測性能
? 大的晶體面積可獲得更佳的檢測下限


功能強大、易于使用的 WinTrace*軟件
? 無標和半無標分析
? 基本參數 (FP) 和基于標樣的經驗方法
? 多層厚度及成分
? 不限元素、不限數量的標樣
? 利用自動化操作實現多個激發條件




主要用途:

? 懸浮顆粒物過濾器
? 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
? 法醫及痕量分析
? 營養補充劑
? 磁性介質和半導體
? 土壤污染
? 過濾器上的薄膜
? 塑料中的有毒元素






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